BGA-Substrat für Halbleitergehäuse

ALCANTA unterstützt die Entwicklung kundenspezifischer Gehäusesubstrate für verschiedene Halbleitergehäusestrukturen.

FCBGA-Substrat

Hochdichte Substratlösungen für Flip-Chip-BGA-Gehäuse, die Feinleitungsführung, Mikrovias und mehrlagige Verbindungen erfordern.

BGA-Substrat mit feiner Rasterung

Feinstrukturierte Substratstrukturen, entwickelt für kompakte Halbleitergehäuse mit höherer Leiterbahndichte und reduzierten Strukturgrößen.

IC-Gehäusesubstrat

Kundenspezifische Gehäusesubstratlösungen für Prozessoren, Controller, Kommunikations-ICs und andere Halbleiterbauelemente.

Kundenspezifisches BGA-Substrat

Anwendungsspezifische Substratentwicklung basierend auf Gehäuseabmessungen, Materialsystemen, Schichtstrukturen, Via-Konfigurationen und elektrischen Anforderungen.

BGA-Substrat für hochdichte Verbindungen

Ein BGA-Substrat stellt die elektrische Verbindung zwischen einem Halbleiterbauelement und der externen Leiterplatte her.

Die Schaltungsstruktur verteilt die feinen Chipverbindungen über mehrere Routing-Ebenen auf die Lötperlenanordnung auf der Gehäuseseite.

Bei der Halbleitergehäusefertigung mit hoher Packungsdichte hängt die Substratleistung von der kombinierten Kontrolle von Material, Schaltungsgeometrie, Mikrovia-Struktur, Schichtregistrierung und Dimensionsstabilität ab.

ALCANTA bietet Entwicklungs- und Fertigungsunterstützung auf Basis der tatsächlichen Verpackungsanforderungen.

✓ Fähigkeit zur Feinleitungsschaltung
✓ Mikrovia-Strukturen
BT und ABF Materialoptionen
✓ Kundenspezifische Mehrschichtstrukturen
✓ Unterstützung bei Prototypen und der Serienproduktion

FC-BGA-Substrate

BGA-Substratlösungen

Hochdichte Leiterbahnführung

Feine Linienstrukturen ermöglichen eine höhere Signalroutingdichte bei begrenzten Gehäuseabmessungen.

Geeignet für Anwendungen, die eine kompakte Schaltungsgeometrie und eine hohe I/O-Dichte erfordern.

Typische Anwendungen

  • FCBGA
  • Prozessorpakete
  • Hochdichte IC-Gehäuse

Kundenzeichnungen, Gerber-Daten, Schichtaufbauinformationen und Materialspezifikationen können vor der Prototypenfertigung überprüft werden.

Fertigungskapazitäten für BGA-Substrate

ArtikelCapability
MaterialBT, ABF, kundenspezifische Materialien
Zeile / LeerzeichenBis hinunter zu 9 μm / 9 μm
Minimaler Durchmesser der LaserdurchführungBis hinunter zu 55 μm
Ebenenanzahl2–26 Schichten
SchichtstrukturKundenspezifische
Substratdicke0.10 – 3.20 mm
Maximale PanelgrößeBis zu 600 × 600 mm
OberflächenfinishENIG, ENEPIG, OSP
QualitätskontrolleElektrische und Zuverlässigkeitsprüfung

Die tatsächliche Fertigungsfähigkeit hängt vom Substratmaterial, der Kupferdicke, der dielektrischen Struktur, der Schichtkonfiguration, dem Via-Design und den gesamten Gehäuseanforderungen ab.

Die endgültigen Spezifikationen werden durch eine projektspezifische technische Prüfung bestätigt.

Von der Designprüfung bis zur Produktion

Feinstrukturfertigung

Feine Linien-/Abstandsbreiten bis hinunter zu 9 μm / 9 μm und Laserdurchgangsdurchmesser bis hinunter zu 55 μm können auf geeignete Designs hin untersucht werden.

Flexible Materialauswahl

BT-, ABF- und kundenspezifische Materialien können gemäß den Verpackungsanforderungen geprüft werden.

Kundenspezifische Strukturen

Substratabmessungen, Schichtaufbauten, Durchkontaktierungsstrukturen und Schaltungskonfigurationen werden nach Kundenvorgaben und nicht nach festen Standardvorgaben entwickelt.

Technische Unterstützung

Die Konstruktionsdateien können vor Produktionsbeginn überprüft werden, um die Herstellbarkeit zu beurteilen und potenzielle Prozessprobleme zu identifizieren.

Prototyp zur Produktion

Unterstützung wird von der ersten technischen Bewertung und Prototypenentwicklung bis hin zur Serienproduktion angeboten.

Häufig gestellte Fragen zu BGA-Substraten

BT und ABF sind gängige Materialsysteme, die für Substrate von Halbleitergehäusen verwendet werden.

Das geeignete Material hängt von der Gehäusestruktur, der Schaltungsdichte, der Lagenanzahl, den elektrischen Leistungs- und Zuverlässigkeitsanforderungen ab.

Kundenspezifische Materialien können ebenfalls bewertet werden.

Feine Linien und Abstände bis hinunter zu 9 μm / 9 μm können auf geeignete Designs hin überprüft werden.

Die endgültige Leistungsfähigkeit hängt vom Material, der Kupferdicke, der dielektrischen Struktur und der gesamten Substratkonfiguration ab.

Laserdurchführungen mit Durchmessern bis hinunter zu 55 μm können je nach Materialsystem, dielektrischer Dicke und Durchführungsstruktur bewertet werden.

Ja.

ALCANTA entwickelt kundenspezifische BGA-Substratstrukturen gemäß Kundenzeichnungen, Gehäuseabmessungen, Materialanforderungen, Schichtaufbau, Schaltungsdichte und Anwendungsbedingungen.

Ja.

Sowohl BT- als auch ABF-Substratmaterialien können gemäß den erforderlichen Gehäusearchitektur- und Fertigungsspezifikationen bewertet werden.

BGA-Substrate bieten Vorteile wie eine verbesserte Wärmeleistung und hochdichte Unterstützung, weisen jedoch auch Einschränkungen auf, wie z. B. Schwierigkeiten bei der Nachbearbeitung und höhere Produktionskosten.

Ja.

Die Entwicklung von Prototypen ist zur Validierung des Designs und zur Überprüfung der Fertigungsmachbarkeit vor der Serienproduktion möglich.

Für eine technische Prüfung und Angebotserstellung empfehlen wir folgende Angaben:

  • Gerber- oder ODB++-Dateien
  • Verpackungszeichnung
  • Aufstapeln
  • Materialbedarf
  • Ebenenanzahl
  • Mindestzeilen-/Abstandsminimum
  • Über Dimensionen
  • Kupferdicke
  • Oberflächengüte
  • Prototyp- oder Serienmenge

Benötigen Sie ein kundenspezifisches BGA-Substrat?

Teilen Sie Ihre Konstruktionsdateien, Verpackungsstruktur, Materialanforderungen oder Anwendungsinformationen mit ALCANTA.

Unser Ingenieurteam wird die Substratstruktur und die Fertigungsanforderungen für Ihr Projekt bewerten.